設(shè)備：AFM粗糙度測試儀Dimension ICON

廠商：德國 Bruker

用途：通過探測微細(xì)針尖和樣品原子團(tuán)之間相互作用力的變化來檢測樣品表面的高低起伏，具有原子級分辨率的表面形貌和表面特性分析。檢測固體材料粗糙度和局部形貌

技術(shù)指標(biāo)：

l  最大掃描范圍：10umX10um，最小值：10nmX10nm

l  樣品臺尺寸：φ35mm

l  表面粗糙度：最大值為1μm

l  測試模塊：形貌測試、導(dǎo)電性能測試、靜電力測試、表面電勢測試、磁學(xué)測試、納米力學(xué)測試

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